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5º andar, edifício de escritórios Dong Ning, 23 West Guangshen Avenue, Xintang Town, Zhengcheng District, Guangzhou
Guangzhou Hongxi Electronic Technology Co., Ltd
5º andar, edifício de escritórios Dong Ning, 23 West Guangshen Avenue, Xintang Town, Zhengcheng District, Guangzhou
Fluorescência de raios X portátil com placa padrão Sn/CuImagens do produto:

A Calmetrics é especializada na produção de peças padrão de revestimento fluorescente de raios X e peças padrão de conteúdo de elementos, fornecendo serviços de calibração de peças padrão, a empresa passou a certificação ISO / IEC 17025. A empresa oferece todos os certificados em conformidade com as normas do NIST (Instituto Nacional de Normas e Tecnologia) ou ANSI (Instituto Nacional de Normas Americano). Sua produção é de boa qualidade, alta precisão e boa estabilidade.
A placa padrão de revestimento Calmetrics é adequada para medidores de espessura de marcas como Fischer, ISP da Coreia do Sul, Hitachi Hitachi (incluindo: Oxford Instruments Oxford (CMI), Seiko Seiko), Thermo, Veeco, Micro Pioneer, Shimazu, Electrotech, Nayue, Tianrui e Huawei.
A folha padrão de revestimento do medidor de espessura de raios X é geralmente dividida em folha de revestimento único, folha de revestimento duplo, folha de revestimento múltiplo, folha de revestimento de liga, folha de revestimento químico. Por exemplo: revestimento único: Au / xx, revestimento duplo: Au / Ni / xx, revestimento triplo: Au / Pd / Ni / xx, revestimento de liga: Sn-Pb / xx, revestimento de liga: Ni-P / xx.
Normas aplicáveis a instrumentos de raios-X. A grande maioria das peças padrão de espessura para fluorescedores portáteis no mercado são fabricadas pela empresa americana Calmetrics.
Fluorescência de raios X portátil com placa padrão Sn/CuTambém chamado de calibração de espessura de membrana ou película fina, é usado profissionalmente para medir a espessura de raios X (espessura de membrana) na medição da espessura do revestimento metálico para a calibração padronizada do instrumento e a criação de arquivos de análise de medição.

Especificações gerais:
