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Fluorescêntrico de raios X portátil em folha padrão galvanizada em ferro Zn / Fe

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Fluorescência de raios X portátil folha padrão galvanizada em ferro Zn / Fe, folha padrão de instrumento portátil de fluorescência de raios X é adequada para a calibração de instrumentos de raios X. A grande maioria das peças padrão de espessura para fluorescedores portáteis no mercado são fabricadas pela empresa americana Calmetrics.

Detalhes do produto

Fluorescêntrico de raios X portátil em folha padrão galvanizada em ferro Zn / Fe400uin / 10um

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A Calmetrics é especializada na produção de peças padrão de revestimento fluorescente de raios X e peças padrão de conteúdo de elementos, fornecendo serviços de calibração de peças padrão, a empresa passou a certificação ISO / IEC 17025. A empresa oferece todos os certificados em conformidade com as normas do NIST (Instituto Nacional de Normas e Tecnologia) ou ANSI (Instituto Nacional de Normas Americano). Sua produção é de boa qualidade, alta precisão e boa estabilidade.

A placa padrão de revestimento Calmetrics é adequada para medidores de espessura de marcas como Fischer, ISP da Coreia do Sul, Hitachi Hitachi (incluindo: Oxford Instruments Oxford (CMI), Seiko Seiko), Thermo, Veeco, Micro Pioneer, Shimazu, Electrotech, Nayue, Tianrui e Huawei.

A folha padrão de revestimento do medidor de espessura de raios X é geralmente dividida em folha de revestimento único, folha de revestimento duplo, folha de revestimento múltiplo, folha de revestimento de liga, folha de revestimento químico. Por exemplo: revestimento único: Au / xx, revestimento duplo: Au / Ni / xx, revestimento triplo: Au / Pd / Ni / xx, revestimento de liga: Sn-Pb / xx, revestimento de liga: Ni-P / xx.

Normas aplicáveis a instrumentos de raios-X. A grande maioria das peças padrão de espessura para fluorescedores portáteis no mercado são fabricadas pela empresa americana Calmetrics.

Fluorescêntrico de raios X portátil em folha padrão galvanizada em ferro Zn / FeTambém chamado de calibração de espessura de membrana ou película fina, é usado profissionalmente para medir a espessura de raios X (espessura de membrana) na medição da espessura do revestimento metálico para a calibração padronizada do instrumento e a criação de arquivos de análise de medição.

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Especificações gerais:


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