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Scanner laser 3D grande área de alta velocidade

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Visão geral

O scanner a laser 3D de alta velocidade de grande área NS-3500 é um microscópio de varredura a laser confocal de alta velocidade (CLSM) de medição tridimensional (3D) preciso e confiável. Realize microimagens confocais em tempo real com módulos de varredura óptica rápida e algoritmos de processamento de sinal. Possui soluções * para medição e detecção de estruturas tridimensionais microscópicas, como chips semicondutores, produtos FPD, equipamentos MEMS, substratos de vidro, superfícies de materiais e muito mais.

Detalhes do produto

NS-3500LScanner laser 3D grande área de alta velocidadeÉ preciso e confiável.Scanner laser 3D grande área de alta velocidade. Realize microimagens confocais em tempo real com módulos de varredura óptica rápida e algoritmos de processamento de sinal. Possui soluções * para medição e detecção de estruturas tridimensionais microscópicas, como chips semicondutores, produtos FPD, equipamentos MEMS, substratos de vidro, superfícies de materiais e muito mais.

Benefícios (Performance & Benefits):

Medição óptica 3D de alta resolução sem danos Compensação automática de inclinação

Imagem confocal em tempo real Modo simples de análise de dados

Zoom óptico múltiplo Scan duplo Z

Detecção de características de substratos semitransparentes

CCD em tempo real e imagem confocal Sem preparação de amostra

Foco automático

Campo de Aplicação (Application Field):

O NS-3500 é uma solução promissora para medir materiais de baixa dimensão.

A altura, largura, ângulo, área e volume de estruturas de mícrons e submicrônicos podem ser medidos, por exemplo

- Semicondutores: gráficos IC, altura de convexão, altura da bobina, detecção de defeitos, processo CMP

- Produtos FPD: detecção de tela táctil, padrão ITO, altura do espaço de coluna LCD

- Dispositivos MEMS: contorno tridimensional da estrutura, rugosidade da superfície, gráficos MEMS

- Superfície de vidro: células solares de película fina, textura de células solares, padrão a laser

- Pesquisa de materiais: detecção de superfície do molde, rugosidade, análise de rachaduras

Especificação (Specification):

Modelo

Microscópio NS-3500

Observação

Controlador NS-3500E

Magnificação da lente

10x

20 vezes

50 vezes

100x

150x

Alcance de observação/medição

nível (H): μm

1400

700

280

140

93

垂直 (V): μm

1050

525

210

105

70

Área de trabalho: mm

16.5

3.1

0.54

0.3

0.2

Diâmetro numérico (N.A.)

0.30

0.46

0.80

0.95

0.95

Zoom óptico

x1 para x6

Ampliação Total

178x to 26700x

Sistema óptico de observação/medição

Sistema óptico confocal com agulha

Medição de altura

Medição do alcance da varredura

Varredura de precisão: 400 μm (e/ou) Varredura de comprimento: 10 mm [NS-3500-S]

Comprimento da varredura: 10mm [NS-3500-T]

Resolução de exibição

0,001 μm

Taxa de repetição σ

0,010 μm

Nota 1

Medição da largura

Resolução de exibição

0,001 μm

Taxa de repetição 3σ

0,02 μm

Nota 2

Memória de quadro

Pixel

1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96

Imagem monocromática

12 bits

Imagens coloridas

8 bits para cada RGB

Medição de altura

16 bits

Taxa de quadros

Scan de superfície

20 Hz a 160 Hz

Varredura de linha

~ 8 kHz

Função automática

Ganho automático

Fonte de luz de medição confocal a laser

comprimento de onda

405 nm

Saída

~ 2mW

Classe do laser

Classe 3b

Componentes de recepção a laser

PMT (tubo fotoelétrico multiplicador)

Fonte de luz de observação óptica

luz

LED de 10W

Câmera de observação óptica

Componente de imagem

1/2" Sensor CCD de imagem colorida

Resolução de registro

640x480

Ajuste automático

Ganho, Velocidade do obturador, Balanço de branco

Unidade de processamento de dados

PC

fonte de alimentação

Tensão de alimentação

100 to 240 VAC, 50/60 Hz

Consumo de corrente

500 VA máxima.

peso

Microscópio

Aproximadamente ~50 kg

(Unidade de cabeça de medição: ~12 kg)

controlador

~ 8 kg

Nota 1: 100 medições em uma amostra padrão (passo de 1 μm) com uma lente de 100×/0,95

NOTA 2: Realize 100 medições em uma amostra padrão (com um intervalo de 5 μm) com uma lente de 100×/0,95.