Microscópio confocal laser 3D de alta velocidade NS3800

NegociávelAtualização em05/06

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Visão geral

O microscópio confocal laser 3D de alta velocidade NS3800 é um microscópio 3D de alta velocidade desenvolvido pela empresa Nanoscope Systems da Coreia do Sul especificamente para o Instituto de Materiais de Baixas Dimensões. Em comparação com o contorímetro de sonda 3D tradicional, o NS3800 usa um laser de 405nm como fonte de luz para a detecção sem danos, sem contato direto com a superfície da amostra e, portanto, não danifica a superfície da amostra, a precisão da medição é muito maior do que o contorímetro de sonda.

Detalhes do produto

Microscópio confocal laser 3D de alta velocidade NS3800É um microscópio de varredura a laser confocal de alta velocidade (CLSM) de medição tridimensional (3D) preciso e confiável. Realize microimagens confocais em tempo real com módulos de varredura óptica rápida e algoritmos de processamento de sinal. Possui soluções * para medição e detecção de estruturas tridimensionais microscópicas, como chips semicondutores, produtos FPD, equipamentos MEMS, substratos de vidro, superfícies de materiais e muito mais.

Benefícios (Performance & Benefits):

Medição óptica 3D de alta resolução sem danos Compensação automática de inclinação

Imagem confocal em tempo real Modo simples de análise de dados

Zoom óptico múltiplo Scan duplo Z

Detecção de características de substratos semitransparentes

CCD em tempo real e imagem confocal Sem preparação de amostra

Foco automático

Campo de Aplicação (Application Field):

O NS-3500 é uma solução promissora para medir materiais de baixa dimensão.

A altura, largura, ângulo, área e volume de estruturas de mícrons e submicrônicos podem ser medidos, por exemplo

- Semicondutores: gráficos IC, altura de convexão, altura da bobina, detecção de defeitos, processo CMP

- Produtos FPD: detecção de tela táctil, padrão ITO, altura do espaço de coluna LCD

- Dispositivos MEMS: contorno tridimensional da estrutura, rugosidade da superfície, gráficos MEMS

- Superfície de vidro: células solares de película fina, textura de células solares, padrão a laser

- Pesquisa de materiais: detecção de superfície do molde, rugosidade, análise de rachaduras

Dimensão (Dimensão):

Microscópio confocal laser 3D de alta velocidade NS3800Especificação (Specification):

Modelo	Microscópio NS-3800					Observação
Magnificação da lente		10x	20 vezes	50 vezes	100x
Alcance de observação/medição	nível (H): μm	1400	700	280	140
	垂直 (V): μm	1050	525	210	105
Área de trabalho: mm		16.5	3.1	0.54	0.3
Diâmetro numérico (N.A.)		0.30	0.46	0.80	0.95
Zoom óptico		x1 para x6
Ampliação Total		178x to 26700x
Sistema óptico de observação/medição		Sistema óptico confocal com agulha
Medição de altura	Medição do alcance da varredura	Varredura fina: 100 μm (e/ou) Varredura longa: 7 mm [NS-3800L]				Nota 1
		Varredura fina: 400 μm (e/ou) Varredura longa: 10 mm [NS-3800D]
		Varredura fina: 200 μm (e/ou) Varredura longa: 10 mm [NS-3800T]
	Resolução de exibição	0,001 μm
	Taxa de repetição σ	0,010 μm				Nota 2
Medição da largura	Resolução de exibição	0,001 μm
	Taxa de repetição 3σ	0,02 μm				Nota 3
Memória de quadro	Pixel	1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96
	Imagem monocromática	12 bits
	Imagens coloridas	8 bits para cada RGB
	Medição de altura	16 bits
Taxa de quadros	Scan de superfície	20 Hz a 160 Hz
	Varredura de linha	~ 8 kHz
Função automática		Ganho automático
Fonte de luz de medição confocal a laser	comprimento de onda	405 nm
	Saída	~ 2mW
	Classe do laser	Classe 3b
Componentes de recepção a laser		PMT (tubo fotoelétrico multiplicador)
Fonte de luz de observação óptica	luz	LED de 10W
Câmera de observação óptica	Componente de imagem	1/2" Sensor CCD de imagem colorida
	Resolução de registro	640x480
	Ajuste automático	Ganho, Velocidade do obturador, Balanço de branco
Unidade de processamento de dados		PC
fonte de alimentação	tensão	100 to 240 VAC, 50/60 Hz
	corrente elétrica	500 VA máxima.
peso	Microscópio	Aproximadamente ~50 kg (Unidade de cabeça de medição: ~12 kg)
	controlador	~ 8 kg
Sistema de Isolamento		Sistema de isolamento flutuante				Opção

NOTA 1: A varredura fina é realizada pelo atuador piezoelétrico (PZT).

Nota 2: Realize 100 medições em uma amostra padrão (passo de 1 μm) com uma lente de 100 x / 0,95.

Nota 3: Realize 100 medições em uma amostra padrão (intervalo de 5 μm) com uma lente de 100×/0,95.

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