Analisador de condução térmica flash laser

A gama de temperatura do analisador de condutividade térmica flash laser de -100 amp; #176; C para 500 amp; #176; C， Sem necessidade de substituir o detector ou o corpo do forno, o LFA467 HyperFlash pode alcançar -100 amp; #176; C para 500 amp; #176; Ampla gama de temperatura de C.

　　Analisador de condução térmica flash laserCom uma gama de temperaturas de -100°C a 500°C, sem necessidade de substituir o detector ou o forno, o LFA467 HyperFlash permite uma ampla gama de temperaturas de -100°C a 500°C no mesmo instrumento. Com 16 bits de amostra e uma capacidade de amostra quatro vezes maior do que a original, a ZoomOptics otimiza o alcance de detecção do detector, eliminando o efeito do apendice de abertura. Aumenta significativamente a precisão dos resultados de medição. Alta frequência de amostragem (2MHz), especialmente adequada para amostras de filme fino

LFA 467 HyperFlash® -Analisador de condução térmica flash laserParâmetros técnicos:

Faixa de temperatura: -100 ° C ... 500 ° C, forno único

Luz de Xenão, energia máxima 10 J/Pulse (potência ajustável)

Medição sem contato, o detector IR detecta o processo de aquecimento da superfície na amostra

Taxa de coleta de dados: até 2MHz (incluindo detecção de sinal de semi-aquecimento e tecnologia de mapeamento de pulso) - para amostras de alta condutividade térmica e de película fina, o tempo de amostragem (cerca de 10 vezes o tempo de semi-aquecimento) pode ser inferior a 1ms e a espessura da amostra pode ser inferior a 0,01 mm (dependendo do fator de condutividade térmica específico)

Medição do coeficiente de difusão térmica: 0,01 mm2/s ... 1000 mm2/s

Medição do coeficiente de condutividade térmica: < 0,1 W/(mK) ... 2000 W/(mK)

Tamanho da amostra:

- Diâmetro 6 mm ... 25,4 mm (incluindo amostras quadradas)

Espessura 0,01 mm ... 6 mm (os requisitos de espessura da amostra dependem da condutividade térmica das amostras diferentes)

Automático de amostragem com 16 bits de amostra, padrões de medição ricos em mais de 20 tipos de suporte para todos os tipos de amostras. Tal como materiais heterossexuais, análise de padrões de camadas múltiplas, filme, fibra, líquido, pasta, pó, metal fundido, teste sob pressão, etc.