Analisador de condutividade térmica

O analisador de condutividade térmica é outra ferramenta poderosa para a medição da difusão térmica e condutividade térmica de materiais. De acordo com a norma ASTM E1461, Nanoflash amp; #174; O uso de lâmpadas de xenon como fonte de aquecimento para aquecer a superfície da amostra, o uso de detectores de infravermelho para ler o aumento da temperatura da amostra reduz a resistência térmica potencial da superfície e permite medir com precisão amostras finas, como revestimentos em substratos, materiais de película fina ou amostras de camadas múltiplas.

A empresa NETZSCH LFA 447 Nanoflash ® condutor térmico flash,Analisador de condutividade térmicaOutra ferramenta poderosa para medição da difusão térmica e condutividade térmica de materiais. De acordo com a norma ASTM E1461, Nanoflash ® O uso de lâmpadas de xenon como fonte de aquecimento para aquecer a superfície da amostra, o uso de detectores de infravermelho para ler o aumento da temperatura da amostra reduz a resistência térmica potencial da superfície e permite medir com precisão amostras finas, como revestimentos em substratos, materiais de película fina ou amostras de camadas múltiplas.

Nanoflash ® A operação é altamente automatizada: a temperatura de teste é controlada pelo software com o flash ligado e desligado e a análise de dados é realizada. O sistema de amostragem automática permite ao instrumento medir várias amostras durante um único teste. Quando o corpo do forno atinge a temperatura definida, a coleta de cada ponto de dados geralmente dura menos de cinco minutos. O instrumento pode definir separadamente o nível de energia do flash, a largura do pulso e a temperatura para cada amostra. O coeficiente de difusão térmica medido é amplo e abrange uma ampla gama de materiais, desde polímeros até diamantes.

　　Analisador de condutividade térmicaPrincípio de medição: a lâmpada de xenão como fonte de aquecimento emite um raio de pulso, atinge a superfície inferior da amostra, mede o aumento de temperatura correspondente na superfície da amostra pelo detector de infravermelho e calcula o coeficiente de difusão térmica da amostra pelo software.

O instrumento mede simultaneamente o coeficiente de difusão térmica (α) e o calor relativo (Cp). A medição do calor comparativo é obtida comparando o aumento da temperatura real da amostra com o aumento da temperatura da amostra de referência conhecida do calor comparativo. Se a densidade da amostra for conhecida (ρ), o fator de condutividade térmica da amostra (λ) pode ser calculado de acordo com a seguinte fórmula:

λ(T) = α(T) * Cp(T) * ρ(T)

Usando um amostrador automático integrado de 2 ou 4 bits de amostra, é possível realizar medições automáticas de várias amostras ao mesmo tempo. A operação da bandeja de amostra é fácil, a amostragem é rápida e o período de amostragem é curto.