Espectrómetro de massa iônico secundário de tempo de voo MiniSIMS-ToF

A espectroscopia de massa iônica secundária de tempo de voo (ToF-SIMS) é uma das tecnologias mais informativas no campo da análise de superfície atual. Ele usa um feixe de iões pulsados para bombardear a superfície da amostra, pulverizar iões secundários e medir com precisão a massa iônica através do analisador de massa do tempo de voo. A tecnologia permite obter informações elementares, isótopos e estruturais moleculares simultaneamente na camada mais externa da amostra (profundidade sub-nanométrica) e permite a análise de imagens de regiões de milímetros a milímetros, bem como a distribuição de componentes na direção da profundidade (profissão). Ao contrário da análise elementar convencional, o ToF-SIMS oferece uma excelente capacidade de detecção de matérias orgânicas e inorgânicas, especialmente para cenários como identificação de desconhecidos, estudos de modificação de superfícies, análise de falhas e caracterização de nanofilmes.

Espectrómetro de massa iônico secundário de tempo de voo MiniSIMS-ToFÉ um espectrômetro de massa iônico secundário de mesa que recebeu vários prêmios internacionais, incluindo o R&D 100 Award, desenvolvido pela SAI. Ele integra a capacidade SIMS, que tradicionalmente requeria grandes sistemas de ultra-alto vácuo, em um único dispositivo de área de trabalho, com requisitos extremamente baixos de espaço de laboratório e instalações de apoio, reduzindo o custo de detecção de amostras individuais em até 90% em comparação com dispositivos tradicionais.

Em comparação com os SIMS de quatro polos tradicionais, os analisadores ToF têm vantagens naturais em velocidade, quantidade de informação e capacidade de descoberta do desconhecido. O MiniSIMS‑ToF apresenta ainda mais essa capacidade* em forma de desktop e baixo custo operacional, permitindo que mais usuários de laboratórios e industriais possam pagar e se beneficiar da análise SIMS real.

Espectrómetro de massa iônico secundário de tempo de voo MiniSIMS-ToFVantagens principais:

1, mais capacidade
Suporta três modos de trabalho: SIMS estático (análise de camada monomolecular de superfície), SIMS de imagem (visualização de distribuição espacial) e SIMS dinâmico (análise em profundidade), cobrindo uma ampla gama de necessidades, desde a pesquisa científica até a análise de falhas industriais.

Analisador de Qualidade do Tempo de Voo
Usando a tecnologia ToF, é possível realizar testes quase paralelos, com todos os números de massa coletados simultaneamente. Cada espectrograma, cada pixel ou cada camada de profundidade contém informações completas sobre o espectro de massa, que podem ser rastreadas após a análise, sem perder nenhum componente desconhecido.

3. Design compacto de mesa
Com menos de 0,5 metro quadrado e apenas cerca de 60 kg de peso, a máquina pode ser facilmente instalada em uma mesa de teste normal, sem necessidade de refrigeração a água especial ou de energia de alta potência.

Iniciação rápida e alto fluxo
Desde a atmosfera até o vácuo de trabalho em apenas alguns minutos, combinado com uma capacidade eficiente de coleta de dados, melhora significativamente a eficiência da análise diária, especialmente para triagem de amostras em lotes múltiplos.

Capacidade de reconhecimento de desconhecidos
Para análises de falhas e pesquisas de ponta, a descoberta de componentes desconhecidos é muitas vezes um avanço. O MiniSIMS‑ToF é uma ferramenta poderosa para detectar e identificar poluições, resíduos, aditivos ou produtos de degradação desconhecidos com propriedades de captação espectral completa.

Áreas de aplicação típicas

Componentes eletrônicos: análise da poluição dos discos de solda, identificação de resíduos de superfície

Revestimento de superfície: uniformidade do revestimento, análise de interfaces entre camadas

Sensores: caracterização do estado químico da superfície de materiais sensíveis

Frição: Migração de lubrificantes, análise de superfícies de desgaste

Catalisadores: Distribuição dos componentes ativos, investigação das causas da inatividade

Adesivos e filmes finas: química da interface de adesão, componentes de filmes ultrafinas

Biomateriais: Avaliação da modificação da superfície de dispositivos médicos

Corrosão e proteção: identificação de produtos corrosivos, análise de membranas passivas

Educação: Ensino e demonstração de análise de superfícies

Equipamento de armazenamento: cabeça magnética / controle da poluição da superfície do disco