Microscópio de sonda de varredura rápida

RH-AFMMicroscópio de sonda de varredura rápidaÉ um microscópio de força atômica de alta resolução de classe profissional com ruído do eixo Z inferior a 35 pm. O dispositivo pode observar a morfologia tridimensional e a estrutura multifásica da microárea da amostra sem perturbar a estrutura interna da amostra; Ao mesmo tempo, as propriedades físicas e químicas da superfície da amostra podem ser estudadas, avaliadas numéricamente e analisadas.

Microscópio de força atómica HR-AFM de produção doméstica

Modos de funcionamento padrão: modo de vibração, modo de contato, imagem de fase, modo de força horizontal (LFM), teste de curva de força, nanomanipulação, nanolitografia, mapeamento de força, teste de atrito

Modos de trabalho opcionais: microscópio de força atómica condutora (C-AFM), microscópio magnético (MFM), microscópio de força elétrica estática (EFM), microscópio de potencial de varredura (SKPM).

Microscópio de sonda de varredura rápidaPossui função de ponta automática de software. Controle automático do motor de direção Z com software

Scanner separado de três eixos X, Y e Z.

Alcance de varredura 100×100×17μm

Resolução do eixo Z 0.035nm

Tamanho da mesa da amostra: 25mm * 25mm * 18mm

Software operacional: Controle de linguagem ambiental Laview, software operacional gratuito, manutenção e atualização

Sistema de análise de dados Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE

Resolução óptica do sistema de visão superior ≤2 microns

Campo de visão varia de 2mm * 2mm a 300um * 300um ajustável, ampliação de 45 a 400 vezes mecânicamente ajustável

Sistema de visão lateral, que fornece a visualização da agulha inferior, que pode controlar o processo da agulha inferior através da observação precisa do computador para evitar o impacto da agulha