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Xiamen supernova tecnologia Co., Ltd.
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Sistema in situ de alta temperatura de eletroscópio de varredura - Edição básica

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Visão geral
O sistema de aquecimento eletroscópico de varredura aplica o controle do campo térmico à amostra através de um chip MEMS, construindo um sistema de medição de controle automático do campo térmico e de feedback no banco de amostras in situ, combinando vários modelos de teste como EDS, EBSD e outros, para obter informações críticas como a microestrutura, a mudança de fase, o valor dos elementos, o estresse microscópico e a estrutura atômica e a evolução dos componentes na tabela / interface em tempo real e até mesmo no nível atômico.
Detalhes do produto


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Nossas vantagens

Alta resolução e confiabilidade

1.Processo de microprocessamento MEMSA espessura mais fina da membrana de nitreto de silício na área da janela do chip de aquecimento pode atingir a resolução limite do eletroscópio de varredura.


Excelentes propriedades térmicas

1.Correção de temperatura infravermelha de alta precisãoMedição e calibração de campo térmico de alta resolução em microns para garantir a precisão da temperatura.

Modo de controle de temperatura de frequência ultra alta, excluindo o efeito do fio e da resistência de contato, medindo a temperatura e os parâmetros elétricos com mais precisão.

Adotando fios de aquecimento de metais preciosos de alta estabilidade (materiais não cerâmicos), tanto materiais condutores de calor quanto materiais sensíveis ao calor, sua resistência e temperatura têm uma boa relação linear, a área de aquecimento cobre toda a área de observação, a velocidade de aquecimento e resfriamento é rápida, o campo térmico é estável e uniforme, e a temperatura flutua em estado estável de ± 1 ° C.

Adotando o controle dinâmico de alta frequência de circuito fechado e o modo de controle da temperatura ambiente de feedback, o controle de feedback de alta frequência elimina erros e a precisão do controle da temperatura é de ± 1 ℃.

O design do chip MEMS de aquecimento composto multiestágio controla a difusão térmica do processo de aquecimento e inibe significativamente a deriva térmica do processo de aquecimento para garantir a observação eficiente do experimento.

O fio de aquecimento é externamente coberto por nitreto de silício e não reage com a amostra para garantir a precisão do experimento.



Parâmetros técnicos

Categorias projeto parâmetro
parâmetros básicos Material da mesa
Liga de titânio de alta resistência
Resolução Resolução limite do eletroscópio de varredura
Aplicação de eletroscópios ZEISS
EDS/EBSD Apoio








Casos de aplicação


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Esquema sintético para a preparação de cristais ZIF-67 e GC


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Imagens SEM


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ZIF-67 após aquecido