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No. 292, Chongqing North Road, Chengyang District, Qingdao, província de Shandong
Qingdao Senary Precisão Instrumento Co., Ltd.
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Microscópio de raios Xradia 410 VersaA lacuna entre o microscópio de raios-X de alto desempenho e o sistema de tomografia por computador (CT) fraco funciona. O Xradia 410 Versa oferece imagens 3D não destrutivas com a melhor resolução, contraste e funcionalidade in situ do setor, permitindo que você realize pesquisas inovadoras em uma ampla gama de volumes de amostra. Melhore o fluxo de trabalho de imagem com esta solução "principal" poderosa e econômica, mesmo em diferentes ambientes de laboratório
Capacidade 4D e in situ para tamanhos e tipos de amostras flexíveis da indústria
O microscópio de raios X Xradia 410 Versa oferece imagens 3D flexíveis e econômicas que lhe permitem trabalhar com uma variedade de amostras e ambientes de pesquisa. Ao longo do tempo, a imagem de raios-X não destrutiva pode manter e expandir o alcance de suas valiosas amostras. O instrumento alcança uma resolução espacial real de 0,9 μm * com um tamanho de corpina pequeno alcançável de 100 nm. A absorção avançada e o contraste de fase (adequado para materiais macios ou de baixo Z) oferecem mais funcionalidades para superar as limitações dos métodos tradicionais de tomografia por computador (CT industrial).
A solução Xradia Versa expande a pesquisa científica para além dos limites dos sistemas de micron e nano CT baseados em projeção. A tomografia tradicional depende de uma ampliação em um único estágio, e o Xradia 410 Versa usa um processo de duas fases baseado em um sistema óptico de acelerador sincronizado-calibre. É fácil de usar e tem um contraste flexível. A resolução de ruptura de longa distância (RaaD) permite que você mantenha resoluções submicrônicas em uma ampla gama de tamanhos de amostra em ambientes nativos e em uma variedade de perfuradoras de campo. A funcionalidade de escala multi-comprimento não-destrutiva permite que você faça imagens da mesma amostra em várias taxas de ampliação para caracterizar a evolução das propriedades microestruturais do material entre processamentos contínuos (4D) ou quando afetadas por condições ambientais simuladas (no local).
Além disso, o sistema de controle Scout-and-Scan permite um ambiente de fluxo de trabalho eficiente através de configurações baseadas em receitas, tornando o Xradia 410 Versa fácil para usuários de todos os níveis de experiência.
Microscópio de raios Xradia 410 VersaVantagens
A arquitetura Xradia Versa utiliza a tecnologia de amplificação de dois níveis para que você possa obter resolução remota (RaaD). Tal como acontece com a tradicional micro-CT, a imagem da amostra é ampliada por meio da ampliação geométrica. Na segunda fase, o corpo piscante converte os raios-X em luz visível e, em seguida, é amplificado ópticamente. A dependência reduzida da ampliação geométrica permite que o instrumento Xradia Versa mantenha uma resolução submicrônica a grandes distâncias de trabalho. Isso permite que você estude eficazmente uma ampla gama de volumes de amostra, inclusive in situ.
Imagem 3D não destrutiva para manter e expandir o uso de amostras valiosas
Alta resolução espacial de até <0,9 μm e tamanho de corpina de até 100 nm
Soluções avançadas de contraste para materiais de baixa Z e tecidos macios
Funcionalidades 4D e in situ da indústria para tamanhos e tipos de amostra flexíveis
O sistema de controle Scout-and-Scan, com configurações de fluxo de trabalho fáceis de usar, é ideal para ambientes multi-usuário
Sobrecarga do banco de amostras e extensão do percurso da fonte e do banco de detecção
* Menos necessidade de preparação de amostras
Navegação fácil através de vários sistemas de detecção de amplificação
Operação contínua com tomografia automática multiponto e repetição