ZEISS lança microscópio eletrônico de varredura Sigma

Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo ZEISS Sigma para imagens e análises de alta qualidade

Detecção flexível, desempenho analítico de fluxo de trabalho em 4 etapas

Combine o desempenho analítico com a tecnologia de varredura de lançamento de campo, aproveitando os componentes ópticos eletrônicos comprovados da Gemin. Vários detectores disponíveis: para imagens de partículas, superfícies ou nanoestruturas. O fluxo de trabalho semiautomático de quatro etapas da Sigma economiza muito tempo: configura as etapas de imagem e análise para aumentar a eficiência.

O Sigma 300 é um bom custo-benefício. O Sigma 500 é equipado com um detector de geometria de dispersão posterior para realizar análises fundamentais de forma rápida e fácil. Análise precisa e repetida em qualquer momento, em qualquer amostra

Li

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Opções flexíveis de detector para obter imagens nítidas

Os mais inovadores detectores ETSE e Inlens obtêm informações de alta resolução sobre a morfologia da superfície em alto vácuo.

Obtenha imagens nítidas no modo de pressão variável com o detector VPSE ou C2D.

Gerar imagens transmitidas de alta resolução com o detector aSTEM.

Analise os componentes com um detector HDBSD ou YAG.

Fácil de usar e fácil de operar

O SmartSEM Touch é um complemento ao sistema operacional existente para ambientes multiusuário e é uma interface de usuário simples que oferece fácil operação para usuários especializados e iniciantes.

Com base no ambiente de laboratório real, a operação de SEM pode ser uma área especializada para especialistas em microscópio eletrônico. No entanto, usuários não profissionais (por exemplo, estudantes, pessoas recentemente treinadas ou engenheiros de qualidade) também precisam usar o SEM para obter dados. O Sigma 300 e o Sigma 300 VP levam em consideração as necessidades dos usuários não profissionais e suas opções de interface de usuário atendem às necessidades operacionais de especialistas em microscópio experientes e usuários novatos em microscópio.

Características:

Microscópio eletrônico de varredura de campo ZEISS Sigma lançado para detecção flexível de imagens nítidas

Caracterize todas as amostras com o Siqma adaptado às suas necessidades com detecção avançada

Obtenha informações sobre a forma e a composição com o detector duplo in-lens.

Obtenha imagens de sinal de até 50% com detectores secundários de nova geração. Utilize os inovadores detectores de pressão variável e C2D da Siama em modo de pressão variável para obter imagens nítidas com contraste de até 85% em ambientes de baixo vácuo.