Microscópio de raios-X ZEISS Xradia 610 & 620 Versa

O microscópio de raios-X Versa da ZEISS é um "poderoso auxiliar" para pesquisadores e cientistas em todo o mundo, graças às excelentes propriedades de alta resolução de grandes distâncias de trabalho (RaaD). A alta resolução também pode ser mantida a distâncias relativamente grandes, o que ajuda a gerar insights e descobertas científicas significativas. Com o rápido desenvolvimento tecnológico atual, os instrumentos analíticos também exigem mais, e a série ZEISS Xradia 600 Versa foi projetada para responder a esse desafio.
O microscópio de raios-X ZEISS Xradia 610 & 620 Versa utiliza uma fonte de luz e tecnologia óptica melhoradas
Os dois principais desafios no campo da tomografia por computador de raios X são: obter imagens de alta resolução e alto fluxo em amostras de grande tamanho e grandes distâncias de trabalho. Os dois microscópios de raios-X da ZEISS abordam esses desafios com a vantagem de que o sistema fornece uma fonte de raios-X de alta potência que aumenta significativamente o fluxo de raios-X e, assim, acelera a tomografia. Melhore a eficiência até o dobro sem afetar a resolução espacial. Ao mesmo tempo, a estabilidade da fonte de raios-X é melhorada e a vida útil é mais longa.
As principais características do microscópio de raios-X ZEISS Xradia 610 & 620 Versa incluem:
✔ zui alta resolução espacial 500nm, zui microsoma 40 nm
✔ Duas vezes mais produtividade do que a série ZEISS Xradia 500Versa
✔ Mais fácil de usar, incluindo fontes de ativação rápidas
✔ Capacidade de observar características submicrônicas de amostras de tipos e tamanhos mais amplos a grandes distâncias de trabalho
Resolução e fluxo mais elevados
As técnicas de tomografia tradicionais dependem de uma única amplificação geométrica, enquanto o microscópio de raios-X ZEISS Xradia Versa terá amplificação óptica e geométrica em dois níveis, ao mesmo tempo que usa uma fonte de raios-X de alto fluxo que permite resoluções submicrônicas mais rápidas. A tecnologia de imagem de alta resolução (RaaD) a grandes distâncias de trabalho permite a imagem 3D de alta resolução sem danos de amostras maiores e densas, incluindo peças e equipamentos. Além disso, a tecnologia de detector de placa plana (FPX) opcional permite uma varredura rápida de amostras de grande volume (até 25 kg), fornecendo uma navegação de localização para a varredura de áreas de interesse dentro da amostra.
Realizar um novo grau de liberdade
Realize pesquisas científicas e industriais de ponta com as melhores soluções de imagem de raios-X 3D do setor: aproveite ao máximo a absorção e o revestimento de fase com zui para ajudar você a identificar informações e características mais ricas de materiais. Utilize a tecnologia de tomografia de revestimento difractivo (LabDCT) para revelar informações de estrutura cristalina 3D. Tecnologias avançadas de captura de imagem permitem digitalização de alta precisão de amostras grandes ou de formas irregulares. Utilize algoritmos de aprendizado de máquina para ajudá-lo no pós-processamento e segmentação de amostras.
Excelentes soluções 4D/in situ
A série ZEISS Xradia 600 Versa permite o processo dinâmico de caracterização microestrutural 3D sem danos de materiais em ambientes controlados. Com o Xradia Versa, que mantém imagens de alta resolução a grandes distâncias de trabalho, as amostras podem ser colocadas em câmaras de amostras ou em dispositivos de carga in situ de alta precisão para imagens de alta resolução. A Versa se integra perfeitamente com outros microscópios da ZEISS para resolver os desafios da imagem em múltiplas escalas.